中国集成电路
中國集成電路
중국집성전로
CHINA INTEGRATED CIRCUIT
2008年
10期
65-68
,共4页
电迁移%截尾测试%对数标准差%置信区间%可靠性风险评估
電遷移%截尾測試%對數標準差%置信區間%可靠性風險評估
전천이%절미측시%대수표준차%치신구간%가고성풍험평고
电迁移(ElectroMigration)效应是集成电路中重要的可靠性项目.本文提出了测试思想从传统的"测试到失效"(Test to Fail)到"测试到目的"(Test to Target)的转变,详细讨论了定数与定时截尾(Censored)测试在封装级电迁移测试中的应用,分析了实际测试当中可能碰到的各种情况并提出了处理方法,总结了一个完整的截尾测试处理流程.
電遷移(ElectroMigration)效應是集成電路中重要的可靠性項目.本文提齣瞭測試思想從傳統的"測試到失效"(Test to Fail)到"測試到目的"(Test to Target)的轉變,詳細討論瞭定數與定時截尾(Censored)測試在封裝級電遷移測試中的應用,分析瞭實際測試噹中可能踫到的各種情況併提齣瞭處理方法,總結瞭一箇完整的截尾測試處理流程.
전천이(ElectroMigration)효응시집성전로중중요적가고성항목.본문제출료측시사상종전통적"측시도실효"(Test to Fail)도"측시도목적"(Test to Target)적전변,상세토론료정수여정시절미(Censored)측시재봉장급전천이측시중적응용,분석료실제측시당중가능팽도적각충정황병제출료처리방법,총결료일개완정적절미측시처리류정.
