电子产品可靠性与环境试验
電子產品可靠性與環境試驗
전자산품가고성여배경시험
ELECTRONIC PRODUCT RELIABILITY AND ENVIRONMENTAL TESTING
2007年
6期
8-10
,共3页
李萍%黄云%郑廷圭%施明哲
李萍%黃雲%鄭廷圭%施明哲
리평%황운%정정규%시명철
微波单片集成电路%失效模式%失效机理%分析案例
微波單片集成電路%失效模式%失效機理%分析案例
미파단편집성전로%실효모식%실효궤리%분석안례
阐述了塑封GaAs MMIC的主要失效模式和失效机理,根据40余例实际案例,得出了其使用中的失效机理分布,并给出几例典型的失效分析案例.
闡述瞭塑封GaAs MMIC的主要失效模式和失效機理,根據40餘例實際案例,得齣瞭其使用中的失效機理分佈,併給齣幾例典型的失效分析案例.
천술료소봉GaAs MMIC적주요실효모식화실효궤리,근거40여례실제안례,득출료기사용중적실효궤리분포,병급출궤례전형적실효분석안례.
