电子工业专用设备
電子工業專用設備
전자공업전용설비
EQUIPMENT FOR ELECTRONIC PRODUCTS MANUFACTURING
2011年
5期
28-31
,共4页
集成电路测试%存储芯片%分页测试%快速测试
集成電路測試%存儲芯片%分頁測試%快速測試
집성전로측시%존저심편%분혈측시%쾌속측시
集成电路的测试最关健的两个方面是快速,准确,但存储器由于容量较大,测试时需对其所有存储单元进行扫描测试,因此消耗时间较多,在现代社会中,随着对存储芯片需求量的增大,测试时间问题也就慢慢地凸显出来,本文就如何优化存储芯片的测试时间进行讨论.
集成電路的測試最關健的兩箇方麵是快速,準確,但存儲器由于容量較大,測試時需對其所有存儲單元進行掃描測試,因此消耗時間較多,在現代社會中,隨著對存儲芯片需求量的增大,測試時間問題也就慢慢地凸顯齣來,本文就如何優化存儲芯片的測試時間進行討論.
집성전로적측시최관건적량개방면시쾌속,준학,단존저기유우용량교대,측시시수대기소유존저단원진행소묘측시,인차소모시간교다,재현대사회중,수착대존저심편수구량적증대,측시시간문제야취만만지철현출래,본문취여하우화존저심편적측시시간진행토론.
