BESⅢ Muon鉴别器电子学系统的VME控制/扇出插件的设计和测试
BESⅢ Muon감별기전자학계통적VME공제/선출삽건적설계화측시
The design and test of VME Control/Fanout module of Muon Counter Electronics System of BESⅢ
  • 万方数据
    核电子学与探测技术 핵전자학여탐측기술
    NUCLEAR ELECTRONICS & DETECTION TECHNOLOGY
    2008年 3期 560-562 ,共3页

    程泽浩%梁昊%虞孝麒%周永钊

    정택호%량호%우효기%주영쇠

    BESⅢ%Muon鉴别器%VME%FPGA%控制/扇出插件 BESⅢ%Muon鑒彆器%VME%FPGA%控製/扇齣插件
    BESⅢ%Muon감별기%VME%FPGA%공제/선출삽건
    本文介绍了BESⅢMuon鉴别器读出电子学系统的VME控制/扇出插件的设计,其中包括插件的功能和结构,插件上FPGA逻辑的设计等.插件在制作和调试完成后,进行了相关功能和稳定性的测试.
    본문개소료BESⅢMuon감별기독출전자학계통적VME공제/선출삽건적설계,기중포괄삽건적공능화결구,삽건상FPGA라집적설계등.삽건재제작화조시완성후,진행료상관공능화은정성적측시.
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