空间电子技术
空間電子技術
공간전자기술
SPACE ELECTRONIC TECHNOLOGY
2011年
2期
59-64
,共6页
热测试仪%T3Ster%航天器%电子元器件%热特性
熱測試儀%T3Ster%航天器%電子元器件%熱特性
열측시의%T3Ster%항천기%전자원기건%열특성
文章介绍了使用MicReD公司的热测试仪T3Ster测量元器件内部热特性的方法.T3Ster测试仪可以测试各类IC、LED、散热器、热管等电子器件的热特性以及PCB、导热材料等的热阻、热容及导热系数、接触热阻等热特性.使用T3Ster测试仪对某航天器用电子元器件内部热特性进行了测量,并与器件资料中的热特性数据进行比对,二者相对误差为0.07%,验证了T3Ster测试仪具有测试高可靠度要求的宇航级电子元器件热特性的能力.为宇航电子元器件的热设计与热分析提供重要的试验依据.
文章介紹瞭使用MicReD公司的熱測試儀T3Ster測量元器件內部熱特性的方法.T3Ster測試儀可以測試各類IC、LED、散熱器、熱管等電子器件的熱特性以及PCB、導熱材料等的熱阻、熱容及導熱繫數、接觸熱阻等熱特性.使用T3Ster測試儀對某航天器用電子元器件內部熱特性進行瞭測量,併與器件資料中的熱特性數據進行比對,二者相對誤差為0.07%,驗證瞭T3Ster測試儀具有測試高可靠度要求的宇航級電子元器件熱特性的能力.為宇航電子元器件的熱設計與熱分析提供重要的試驗依據.
문장개소료사용MicReD공사적열측시의T3Ster측량원기건내부열특성적방법.T3Ster측시의가이측시각류IC、LED、산열기、열관등전자기건적열특성이급PCB、도열재료등적열조、열용급도열계수、접촉열조등열특성.사용T3Ster측시의대모항천기용전자원기건내부열특성진행료측량,병여기건자료중적열특성수거진행비대,이자상대오차위0.07%,험증료T3Ster측시의구유측시고가고도요구적우항급전자원기건열특성적능력.위우항전자원기건적열설계여열분석제공중요적시험의거.
