n-GaN肖特基势垒二极管的高温电子辐照效应
n-GaN초특기세루이겁관적고온전자복조효응
Effects of High-temperature Electron Irradiation in n-GaN Schottky Barrier Diode
  • 万方数据
    光散射学报 광산사학보
    CHINESE JOURNAL OF LIGHT SCATTERING
    2006年 3期 277-281 ,共5页

    谢宛玲%杨治美%钟志亲%吴健%林海%马瑶%袁菁%龚敏

    사완령%양치미%종지친%오건%림해%마요%원정%공민

    GaN肖特基势垒二极管%高温%电子辐照 GaN肖特基勢壘二極管%高溫%電子輻照
    GaN초특기세루이겁관%고온%전자복조
    本文研究了n-GaN肖特基势垒二极管的高温电子辐照效应.实验结果显示,高温下进行电子辐照,界面处辐照诱生缺陷会同时产生和被退火恢复;器件的击穿电压和反向漏电流受辐照影响减弱,其电学阈值增加;由辐照效应导致的可见光响应的影响仍然存在.
    본문연구료n-GaN초특기세루이겁관적고온전자복조효응.실험결과현시,고온하진행전자복조,계면처복조유생결함회동시산생화피퇴화회복;기건적격천전압화반향루전류수복조영향감약,기전학역치증가;유복조효응도치적가견광향응적영향잉연존재.
    원문보기 원문다운로드 사이트로이동
저자의 최근 논문