晶振器件电路部分的失效分析研究
정진기건전로부분적실효분석연구
Failure Analysis of Circuit Part in Crystal Oscillator
  • 万方数据
    电子产品可靠性与环境试验 전자산품가고성여배경시험
    ELECTRONIC PRODUCT RELIABILITY AND ENVIRONMENTAL TESTING
    2010年 1期 27-31 ,共5页

    田永盛%杜良桢

    전영성%두량정

    晶体器件%电路%失效分析 晶體器件%電路%失效分析
    정체기건%전로%실효분석
    介绍了晶振器件的电路结构,并通过具体的案伪,对晶振器件电路部分的失效现象以及分析流程进行了研究,以确定真正的失效机理.
    개소료정진기건적전로결구,병통과구체적안위,대정진기건전로부분적실효현상이급분석류정진행료연구,이학정진정적실효궤리.
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