微电子学
微電子學
미전자학
MICROELECTRONICS
2012年
4期
449-453,457
,共6页
单粒子瞬变%运算跨导放大器%2阶系统
單粒子瞬變%運算跨導放大器%2階繫統
단입자순변%운산과도방대기%2계계통
从2阶闭环系统的角度出发,推导并分析了单粒子瞬变(SET)电流在密勒运算跨导放大器(OTA)中的传导效应.通过理论分析,发现OTA两级跨导比例(Gm2/Gm1)的大小不仅决定了系统闭环的稳定性,也决定了SET电流在系统输出端电压响应的振动幅度和恢复时间.在标准0.18μm CMOS工艺下,通过改变两级跨导的比例值,对电路的两个有效节点进行电路级SET轰击实验,收集实验结果,给出抗SET效应运算放大器的设计建议.
從2階閉環繫統的角度齣髮,推導併分析瞭單粒子瞬變(SET)電流在密勒運算跨導放大器(OTA)中的傳導效應.通過理論分析,髮現OTA兩級跨導比例(Gm2/Gm1)的大小不僅決定瞭繫統閉環的穩定性,也決定瞭SET電流在繫統輸齣耑電壓響應的振動幅度和恢複時間.在標準0.18μm CMOS工藝下,通過改變兩級跨導的比例值,對電路的兩箇有效節點進行電路級SET轟擊實驗,收集實驗結果,給齣抗SET效應運算放大器的設計建議.
종2계폐배계통적각도출발,추도병분석료단입자순변(SET)전류재밀륵운산과도방대기(OTA)중적전도효응.통과이론분석,발현OTA량급과도비례(Gm2/Gm1)적대소불부결정료계통폐배적은정성,야결정료SET전류재계통수출단전압향응적진동폭도화회복시간.재표준0.18μm CMOS공예하,통과개변량급과도적비례치,대전로적량개유효절점진행전로급SET굉격실험,수집실험결과,급출항SET효응운산방대기적설계건의.
