逻辑簇边界扫描测试相关问题及解决方案
라집족변계소묘측시상관문제급해결방안
Problems and Solutions in Logic Cluster Boundary Scan Test
  • 万方数据
    半导体技术 반도체기술
    SEMICONDUCTOR TECHNOLOGY
    2006年 6期 441-443,451 ,共4页

    王宁%张扬%伍逸枫

    왕저%장양%오일풍

    边界扫描%测试%逻辑簇%内建自测试 邊界掃描%測試%邏輯簇%內建自測試
    변계소묘%측시%라집족%내건자측시
    逻辑簇的边界扫描测试存在一些不可忽视的重要问题.分析了这些问题的影响,提出了相应措施,并介绍了结合BIST技术进行逻辑簇测试的方法.
    라집족적변계소묘측시존재일사불가홀시적중요문제.분석료저사문제적영향,제출료상응조시,병개소료결합BIST기술진행라집족측시적방법.
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