CAJ | 학술논문

存储器具有存储容量大、集成度高以及工作速度快等特点,被广泛应用于现代电路设计中；在电路中,存储器能否正常工作,将直接影响整个系统工作状态是否稳定；为了提高系统的可靠性,对存储器进行可靠性测试是十分必要的；在介绍了存储器电路结构和故障的基础上,对某含有RAM存储器的CPU板进行了基于边界扫描的BIT测试性设计和改造,并对系统中的RAM芯片进行了测试性验证；实验结果表明,改造后的电路系统能够实现RAM自测试功能,且故障定位准确,达到了预期的设计目的,可有效提高系统的可靠性.
존저기구유존저용량대、집성도고이급공작속도쾌등특점,피엄범응용우현대전로설계중；재전로중,존저기능부정상공작,장직접영향정개계통공작상태시부은정；위료제고계통적가고성,대존저기진행가고성측시시십분필요적；재개소료존저기전로결구화고장적기출상,대모함유RAM존저기적CPU판진행료기우변계소묘적BIT측시성설계화개조,병대계통중적RAM심편진행료측시성험증；실험결과표명,개조후적전로계통능구실현RAM자측시공능,차고장정위준학,체도료예기적설계목적,가유효제고계통적가고성.