半导体学报
半導體學報
반도체학보
CHINESE JOURNAL OF SEMICONDUCTORS
2005年
1期
126-132
,共7页
反恢时间%温度稳定性%平均寿命
反恢時間%溫度穩定性%平均壽命
반회시간%온도은정성%평균수명
对少数载流子寿命横向非均匀分布(minority-carrier life time lateral non-uniform distribution,MLD)结构的快恢复二极管进行了理论研究.首先利用MLD二极管n型基区内部少数载流子在横向上的分布形态,给出了MLD结构提高快恢复二极管的反恢时间-温度(trr-T)稳定性的一个定性解释,然后利用"平均寿命"对MLD二极管的trr-T特性进行了讨论.模拟结果证明了理论分析的正确性.
對少數載流子壽命橫嚮非均勻分佈(minority-carrier life time lateral non-uniform distribution,MLD)結構的快恢複二極管進行瞭理論研究.首先利用MLD二極管n型基區內部少數載流子在橫嚮上的分佈形態,給齣瞭MLD結構提高快恢複二極管的反恢時間-溫度(trr-T)穩定性的一箇定性解釋,然後利用"平均壽命"對MLD二極管的trr-T特性進行瞭討論.模擬結果證明瞭理論分析的正確性.
대소수재류자수명횡향비균균분포(minority-carrier life time lateral non-uniform distribution,MLD)결구적쾌회복이겁관진행료이론연구.수선이용MLD이겁관n형기구내부소수재류자재횡향상적분포형태,급출료MLD결구제고쾌회복이겁관적반회시간-온도(trr-T)은정성적일개정성해석,연후이용"평균수명"대MLD이겁관적trr-T특성진행료토론.모의결과증명료이론분석적정학성.
