重庆邮电学院学报（自然科学版）
重慶郵電學院學報（自然科學版）
중경유전학원학보（자연과학판）
JOURNAL OF CHONGQING UNIVERSITY OF POSTS AND TELECOMMUNICATIONS(NATURAL SCIENCE EDITION)
2006年
6期
686-688,723
,共4页
边界扫描%数字集成电路%可测性设计
邊界掃描%數字集成電路%可測性設計
변계소묘%수자집성전로%가측성설계
随着集成电路规模的不断增大,芯片的可测性设计正变得越来越重要.研究了目前较常用的边界扫描测试技术的原理、结构,并给出了边界扫描技术的应用.重点研究了基于边界扫描的外测试方式,即电路板上芯片间连线的固定故障、开路和短路故障的测试;利用硬件描述语言Verilog设计出TAP控制器,得到TAP状态机的仿真结果.
隨著集成電路規模的不斷增大,芯片的可測性設計正變得越來越重要.研究瞭目前較常用的邊界掃描測試技術的原理、結構,併給齣瞭邊界掃描技術的應用.重點研究瞭基于邊界掃描的外測試方式,即電路闆上芯片間連線的固定故障、開路和短路故障的測試;利用硬件描述語言Verilog設計齣TAP控製器,得到TAP狀態機的倣真結果.
수착집성전로규모적불단증대,심편적가측성설계정변득월래월중요.연구료목전교상용적변계소묘측시기술적원리、결구,병급출료변계소묘기술적응용.중점연구료기우변계소묘적외측시방식,즉전로판상심편간련선적고정고장、개로화단로고장적측시;이용경건묘술어언Verilog설계출TAP공제기,득도TAP상태궤적방진결과.
