微电子学与计算机
微電子學與計算機
미전자학여계산궤
MICROELECTRONICS & COMPUTER
2007年
8期
183-185
,共3页
内建自测试%低功耗%线性反馈移位寄存器
內建自測試%低功耗%線性反饋移位寄存器
내건자측시%저공모%선성반궤이위기존기
提出了一种在不损失固定型故障覆盖率的前提下降低测试功耗的内建自测试BIST(built-in self-test)设计方法,该方法在原始线性反馈移位寄存器LFSR(linear feedback shift register)的基础上加入若干逻辑,使测试向量每周期最多产生两次跳变,因而大大降低了被测电路CUT(circuit undertest)的功耗.通过对组合电路集ISCAS'85的实验证明,被测电路的总功耗、平均功耗以及峰值功耗都有大幅度的降低.
提齣瞭一種在不損失固定型故障覆蓋率的前提下降低測試功耗的內建自測試BIST(built-in self-test)設計方法,該方法在原始線性反饋移位寄存器LFSR(linear feedback shift register)的基礎上加入若榦邏輯,使測試嚮量每週期最多產生兩次跳變,因而大大降低瞭被測電路CUT(circuit undertest)的功耗.通過對組閤電路集ISCAS'85的實驗證明,被測電路的總功耗、平均功耗以及峰值功耗都有大幅度的降低.
제출료일충재불손실고정형고장복개솔적전제하강저측시공모적내건자측시BIST(built-in self-test)설계방법,해방법재원시선성반궤이위기존기LFSR(linear feedback shift register)적기출상가입약간라집,사측시향량매주기최다산생량차도변,인이대대강저료피측전로CUT(circuit undertest)적공모.통과대조합전로집ISCAS'85적실험증명,피측전로적총공모、평균공모이급봉치공모도유대폭도적강저.
