激光技术
激光技術
격광기술
LASER TECHNOLOGY
2001年
6期
469-472
,共4页
XeF2%吸收截面%准分子激光
XeF2%吸收截麵%準分子激光
XeF2%흡수절면%준분자격광
给出了一种用吸收光谱法实时监测XeF激光器XeF2气体压强的方法，标定了XeF2气体在波长为253.7nm处的吸收截面的大小XeF-2532.7=(4.55±0.05)×cm2.用该监测系统测最一XeF2气体与3种作为激光器气室材料的反应速率,同时研究了XeF蓝绿激光器中输出激光能量与XeF2气体压强的关系。
給齣瞭一種用吸收光譜法實時鑑測XeF激光器XeF2氣體壓彊的方法，標定瞭XeF2氣體在波長為253.7nm處的吸收截麵的大小XeF-2532.7=(4.55±0.05)×cm2.用該鑑測繫統測最一XeF2氣體與3種作為激光器氣室材料的反應速率,同時研究瞭XeF藍綠激光器中輸齣激光能量與XeF2氣體壓彊的關繫。
급출료일충용흡수광보법실시감측XeF격광기XeF2기체압강적방법，표정료XeF2기체재파장위253.7nm처적흡수절면적대소XeF-2532.7=(4.55±0.05)×cm2.용해감측계통측최일XeF2기체여3충작위격광기기실재료적반응속솔,동시연구료XeF람록격광기중수출격광능량여XeF2기체압강적관계。
