核电子学与探测技术
覈電子學與探測技術
핵전자학여탐측기술
NUCLEAR ELECTRONICS & DETECTION TECHNOLOGY
2010年
4期
480-483
,共4页
徐品%陈元柏%赵书俊%王小胡%赵豫斌%章红宇
徐品%陳元柏%趙書俊%王小鬍%趙豫斌%章紅宇
서품%진원백%조서준%왕소호%조예빈%장홍우
X射线%阈值%位置分辨高斯法
X射線%閾值%位置分辨高斯法
X사선%역치%위치분변고사법
利用多丝正比室对基于VME机箱读出电子学及数据获取系统进行调试,调试过程中对电子学系统的一些参数进行了合理的设置,同时对电子学的性能进行了测试,使得电子学系统的设置符合多丝正比室探测器的要求,以提高探测器的性能.同时对两种不同的数据处理方法进行了比较,测得多丝正比室的沿着阳极丝方向的位置分辨约为0.2～0.3 mm.
利用多絲正比室對基于VME機箱讀齣電子學及數據穫取繫統進行調試,調試過程中對電子學繫統的一些參數進行瞭閤理的設置,同時對電子學的性能進行瞭測試,使得電子學繫統的設置符閤多絲正比室探測器的要求,以提高探測器的性能.同時對兩種不同的數據處理方法進行瞭比較,測得多絲正比室的沿著暘極絲方嚮的位置分辨約為0.2～0.3 mm.
이용다사정비실대기우VME궤상독출전자학급수거획취계통진행조시,조시과정중대전자학계통적일사삼수진행료합리적설치,동시대전자학적성능진행료측시,사득전자학계통적설치부합다사정비실탐측기적요구,이제고탐측기적성능.동시대량충불동적수거처리방법진행료비교,측득다사정비실적연착양겁사방향적위치분변약위0.2～0.3 mm.
