福建分析测试
福建分析測試
복건분석측시
FUJIAN ANALYSIS & TESTING
2011年
3期
60-62
,共3页
CMOS像传感器%光饱和%成像%激光
CMOS像傳感器%光飽和%成像%激光
CMOS상전감기%광포화%성상%격광
图像传感器在光学测量中具有重要作用,随着光源光强的提高,图像传感器处于饱和光强的情况越来越多.因此本文通过采用激光辐照CMOS像传感器的方法,研究了CMOS像传感器的饱和效应,明显观察到高光强使得图像灰度由亮变暗现象.该研究可以为高光强测试以及相机设计及后续图像处理提供参考.
圖像傳感器在光學測量中具有重要作用,隨著光源光彊的提高,圖像傳感器處于飽和光彊的情況越來越多.因此本文通過採用激光輻照CMOS像傳感器的方法,研究瞭CMOS像傳感器的飽和效應,明顯觀察到高光彊使得圖像灰度由亮變暗現象.該研究可以為高光彊測試以及相機設計及後續圖像處理提供參攷.
도상전감기재광학측량중구유중요작용,수착광원광강적제고,도상전감기처우포화광강적정황월래월다.인차본문통과채용격광복조CMOS상전감기적방법,연구료CMOS상전감기적포화효응,명현관찰도고광강사득도상회도유량변암현상.해연구가이위고광강측시이급상궤설계급후속도상처리제공삼고.
