原子能科学技术
原子能科學技術
원자능과학기술
ATOMIC ENERGY SCIENCE AND TECHNOLOGY
1999年
1期
50-55
,共6页
张国辉%唐国有%陈金象%施兆民
張國輝%唐國有%陳金象%施兆民
장국휘%당국유%진금상%시조민
屏栅电离室%径迹长度(X)%实验测量%理论计算
屏柵電離室%徑跡長度(X)%實驗測量%理論計算
병책전리실%경적장도(X)%실험측량%이론계산
用屏栅电离室对α、t和p在Ar与Kr中到达电离密度重心的径迹长度(X)进行了测量,并根据Trim程序和其它文献的阻止本领数据对其进行了计算.理论值与实验结果符合较好.
用屏柵電離室對α、t和p在Ar與Kr中到達電離密度重心的徑跡長度(X)進行瞭測量,併根據Trim程序和其它文獻的阻止本領數據對其進行瞭計算.理論值與實驗結果符閤較好.
용병책전리실대α、t화p재Ar여Kr중도체전리밀도중심적경적장도(X)진행료측량,병근거Trim정서화기타문헌적조지본령수거대기진행료계산.이론치여실험결과부합교호.
