核电子学与探测技术
覈電子學與探測技術
핵전자학여탐측기술
NUCLEAR ELECTRONICS & DETECTION TECHNOLOGY
2011年
11期
1245-1249
,共5页
双能%X射线%等效能量%质量厚度%最佳低压
雙能%X射線%等效能量%質量厚度%最佳低壓
쌍능%X사선%등효능량%질량후도%최가저압
介绍了用X射线等效能量法计算双组分物质质量厚度的方法,该方法在计算过程中采用单组分物质的等效质量衰减系数来替代双组分的等效质量衰减系数.通过射线吸收模拟实验,理论上计算了该方法的误差,结果表明在理论计算的双组分样品厚度范围内,该方法可以达到很好的精度,具备可行性.同时讨论了不同高压组合对质量厚度计算误差的影响.发现在固定一个高压的前提下,存在一个最佳低压,可以使质量厚度计算误差最小.
介紹瞭用X射線等效能量法計算雙組分物質質量厚度的方法,該方法在計算過程中採用單組分物質的等效質量衰減繫數來替代雙組分的等效質量衰減繫數.通過射線吸收模擬實驗,理論上計算瞭該方法的誤差,結果錶明在理論計算的雙組分樣品厚度範圍內,該方法可以達到很好的精度,具備可行性.同時討論瞭不同高壓組閤對質量厚度計算誤差的影響.髮現在固定一箇高壓的前提下,存在一箇最佳低壓,可以使質量厚度計算誤差最小.
개소료용X사선등효능량법계산쌍조분물질질량후도적방법,해방법재계산과정중채용단조분물질적등효질량쇠감계수래체대쌍조분적등효질량쇠감계수.통과사선흡수모의실험,이론상계산료해방법적오차,결과표명재이론계산적쌍조분양품후도범위내,해방법가이체도흔호적정도,구비가행성.동시토론료불동고압조합대질량후도계산오차적영향.발현재고정일개고압적전제하,존재일개최가저압,가이사질량후도계산오차최소.
