微电子学
微電子學
미전자학
MICROELECTRONICS
2009年
2期
247-250
,共4页
RFIC%结构性测试%热量监测%敏感性分析%神经网络
RFIC%結構性測試%熱量鑑測%敏感性分析%神經網絡
RFIC%결구성측시%열량감측%민감성분석%신경망락
随着半导体技术的进步,RFIC取得了飞速的发展,并在多个领域获得了广泛的应用.然而,仍有许多因素制约了RFIC的发展.RFIC测试正是制约RFIC发展的主要瓶颈之一.文章分析了RFIC测试的挑战,介绍了基于热量监测、敏感性分析和神经网络等不同关键技术的RFIC结构性测试方法;指出RFIC的结构性测试方法是功能性测试方法的有效补充,也是降低测试成本的有效方法之一.
隨著半導體技術的進步,RFIC取得瞭飛速的髮展,併在多箇領域穫得瞭廣汎的應用.然而,仍有許多因素製約瞭RFIC的髮展.RFIC測試正是製約RFIC髮展的主要瓶頸之一.文章分析瞭RFIC測試的挑戰,介紹瞭基于熱量鑑測、敏感性分析和神經網絡等不同關鍵技術的RFIC結構性測試方法;指齣RFIC的結構性測試方法是功能性測試方法的有效補充,也是降低測試成本的有效方法之一.
수착반도체기술적진보,RFIC취득료비속적발전,병재다개영역획득료엄범적응용.연이,잉유허다인소제약료RFIC적발전.RFIC측시정시제약RFIC발전적주요병경지일.문장분석료RFIC측시적도전,개소료기우열량감측、민감성분석화신경망락등불동관건기술적RFIC결구성측시방법;지출RFIC적결구성측시방법시공능성측시방법적유효보충,야시강저측시성본적유효방법지일.
