电子产品可靠性与环境试验
電子產品可靠性與環境試驗
전자산품가고성여배경시험
ELECTRONIC PRODUCT RELIABILITY AND ENVIRONMENTAL TESTING
2007年
2期
43-48
,共6页
王蕴辉%莫郁薇%吴海东%张增照%古文刚%聂国健
王蘊輝%莫鬱薇%吳海東%張增照%古文剛%聶國健
왕온휘%막욱미%오해동%장증조%고문강%섭국건
微波单片集成电路%可靠性预计%寿命试验
微波單片集成電路%可靠性預計%壽命試驗
미파단편집성전로%가고성예계%수명시험
在对微波单片集成电路(MMIC)的失效模式和失效机理进行分析的基础上,提出了砷化镓微波单片集成电路(GaAs MMIC)的可靠性预计数学模型,并通过加速寿命试验确定了产品的基本失效率和预计模型温度系数πT.在大量统计工艺数据和文献数据的基础上,获得了可靠性预计模型中的其它系数.
在對微波單片集成電路(MMIC)的失效模式和失效機理進行分析的基礎上,提齣瞭砷化鎵微波單片集成電路(GaAs MMIC)的可靠性預計數學模型,併通過加速壽命試驗確定瞭產品的基本失效率和預計模型溫度繫數πT.在大量統計工藝數據和文獻數據的基礎上,穫得瞭可靠性預計模型中的其它繫數.
재대미파단편집성전로(MMIC)적실효모식화실효궤리진행분석적기출상,제출료신화가미파단편집성전로(GaAs MMIC)적가고성예계수학모형,병통과가속수명시험학정료산품적기본실효솔화예계모형온도계수πT.재대량통계공예수거화문헌수거적기출상,획득료가고성예계모형중적기타계수.
