中国集成电路
中國集成電路
중국집성전로
CHINA INTEGRATED CIRCUIT
2011年
9期
82-87
,共6页
周萌%赵辉%梁平%孙加兴%谢学军%邱善勤
週萌%趙輝%樑平%孫加興%謝學軍%邱善勤
주맹%조휘%량평%손가흥%사학군%구선근
集成电路IP%IP质量模型%评测
集成電路IP%IP質量模型%評測
집성전로IP%IP질량모형%평측
Semiconductor IP%IP Quality Model%Qualification
本文提出了一种基于第三方的集成电路IP质量评测过程，基于第三方过程的IP评测案例分析表明，该过程能够有效地提高集成电路IP项目的可交付项质量。同时本论文使用该评测过程的应用案例，对进一步的集成电路IP质量发展提出了若干建议。
本文提齣瞭一種基于第三方的集成電路IP質量評測過程，基于第三方過程的IP評測案例分析錶明，該過程能夠有效地提高集成電路IP項目的可交付項質量。同時本論文使用該評測過程的應用案例，對進一步的集成電路IP質量髮展提齣瞭若榦建議。
본문제출료일충기우제삼방적집성전로IP질량평측과정，기우제삼방과정적IP평측안례분석표명，해과정능구유효지제고집성전로IP항목적가교부항질량。동시본논문사용해평측과정적응용안례，대진일보적집성전로IP질량발전제출료약간건의。
This paper proposes a new semiconductor IP quality appraisal method based on the third party. Case studies demonstrate the third party quality appraisal process for semiconductor IP can improve the IP quality of projects with limited cost. The quality appraisal results also show the states of current IP quality have an improved space. Some suggestions about improving IP quality in IP project have been proposed as conclusion.
