电子学报
電子學報
전자학보
ACTA ELECTRONICA SINICA
2007年
12期
2335-2338
,共4页
测试集优化%遗传算法%行列消去法
測試集優化%遺傳算法%行列消去法
측시집우화%유전산법%행렬소거법
测试集优化是数字电路测试的一个基本问题.本文提出了一种基于遗传排序的测试集优化方法,采用遗传算法对测试集的"矢量-故障"矩阵的行向量排列顺序进行优化,并采用行列消去法作为适应度评估方法.实验结果表明,基于遗传排序的测试集优化方法有效地减少了测试矢量的数目,而且保证了所得的测试集中不包含冗余测试矢量.
測試集優化是數字電路測試的一箇基本問題.本文提齣瞭一種基于遺傳排序的測試集優化方法,採用遺傳算法對測試集的"矢量-故障"矩陣的行嚮量排列順序進行優化,併採用行列消去法作為適應度評估方法.實驗結果錶明,基于遺傳排序的測試集優化方法有效地減少瞭測試矢量的數目,而且保證瞭所得的測試集中不包含冗餘測試矢量.
측시집우화시수자전로측시적일개기본문제.본문제출료일충기우유전배서적측시집우화방법,채용유전산법대측시집적"시량-고장"구진적행향량배렬순서진행우화,병채용행렬소거법작위괄응도평고방법.실험결과표명,기우유전배서적측시집우화방법유효지감소료측시시량적수목,이차보증료소득적측시집중불포함용여측시시량.
