电光与控制
電光與控製
전광여공제
ELECTRONICS OPTICS & CONTROL
2010年
12期
53-56
,共4页
激光干涉条纹%边缘检测%最小二乘法%亚像素
激光榦涉條紋%邊緣檢測%最小二乘法%亞像素
격광간섭조문%변연검측%최소이승법%아상소
激光干涉条纹中心及半径的检测是光学测量中的关键技术.针对传统的检测方法不能实现高精度、自动化、实时性的缺点,提出了利用数字图像处理技术来提取激光干涉条纹的中心及半径的方法.该方法通过滤波、二值化、细化及亚像素边缘检测等数字图像处理,利用最小二乘法来拟合干涉条纹的中心及半径.实验证明该方法可以检测亚像素级的条纹中心及半径,检测速度快,基本满足了实际应用中实时高精度的激光干涉测量.
激光榦涉條紋中心及半徑的檢測是光學測量中的關鍵技術.針對傳統的檢測方法不能實現高精度、自動化、實時性的缺點,提齣瞭利用數字圖像處理技術來提取激光榦涉條紋的中心及半徑的方法.該方法通過濾波、二值化、細化及亞像素邊緣檢測等數字圖像處理,利用最小二乘法來擬閤榦涉條紋的中心及半徑.實驗證明該方法可以檢測亞像素級的條紋中心及半徑,檢測速度快,基本滿足瞭實際應用中實時高精度的激光榦涉測量.
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