电子元件与材料
電子元件與材料
전자원건여재료
ELECTRONIC COMPONENTS & MATERIALS
1999年
3期
1-2
,共2页
PTC陶瓷%晶界势垒%化学镀镍
PTC陶瓷%晶界勢壘%化學鍍鎳
PTC도자%정계세루%화학도얼
化学镀镍过程对PTCR及MLCC等元件的电性能,往往会产生负面效应,其中氢离子引起的还原作用不可忽视,其主要机理是增加了载流子浓度和改变了晶粒边界势垒.
化學鍍鎳過程對PTCR及MLCC等元件的電性能,往往會產生負麵效應,其中氫離子引起的還原作用不可忽視,其主要機理是增加瞭載流子濃度和改變瞭晶粒邊界勢壘.
화학도얼과정대PTCR급MLCC등원건적전성능,왕왕회산생부면효응,기중경리자인기적환원작용불가홀시,기주요궤리시증가료재류자농도화개변료정립변계세루.