实验科学与技术
實驗科學與技術
실험과학여기술
EXPERIMENT SCIENCE AND TECHNOLOGY
2010年
2期
15-17
,共3页
变温霍尔效应%n型标准锗样品%禁带宽度
變溫霍爾效應%n型標準鍺樣品%禁帶寬度
변온곽이효응%n형표준타양품%금대관도
文章介绍了变温霍尔效应测量半导体电学特性实验,通过77～400K的浅掺杂n型锗标准样品变温霍尔效应测量,根据对各种变温数据曲线中高温本征导电区斜率的计算,得到半导体样品的禁带宽度Eg,并对计算结果进行比较讨论.认为lg(|RH|T3/2)-1/T曲线方法更合适用来计算禁带宽度.
文章介紹瞭變溫霍爾效應測量半導體電學特性實驗,通過77～400K的淺摻雜n型鍺標準樣品變溫霍爾效應測量,根據對各種變溫數據麯線中高溫本徵導電區斜率的計算,得到半導體樣品的禁帶寬度Eg,併對計算結果進行比較討論.認為lg(|RH|T3/2)-1/T麯線方法更閤適用來計算禁帶寬度.
문장개소료변온곽이효응측량반도체전학특성실험,통과77～400K적천참잡n형타표준양품변온곽이효응측량,근거대각충변온수거곡선중고온본정도전구사솔적계산,득도반도체양품적금대관도Eg,병대계산결과진행비교토론.인위lg(|RH|T3/2)-1/T곡선방법경합괄용래계산금대관도.
