现代雷达
現代雷達
현대뢰체
MODERN RADAR
2003年
6期
1-4
,共4页
边界扫描%BIT%测试
邊界掃描%BIT%測試
변계소묘%BIT%측시
随着超大规模集成电路(VLSI)、表面安装器件(SMD)、多层印制电路板(MPCB)等技术的发展,常规BIT设计面临挑战.为解决上述问题,本文提出了一种基于边界扫描技术的板级BIT的扫描器件置入法及其测试策略.该方法操作简单,经济实用,一旦广泛使用,无疑将会有很好的军事经济效益.
隨著超大規模集成電路(VLSI)、錶麵安裝器件(SMD)、多層印製電路闆(MPCB)等技術的髮展,常規BIT設計麵臨挑戰.為解決上述問題,本文提齣瞭一種基于邊界掃描技術的闆級BIT的掃描器件置入法及其測試策略.該方法操作簡單,經濟實用,一旦廣汎使用,無疑將會有很好的軍事經濟效益.
수착초대규모집성전로(VLSI)、표면안장기건(SMD)、다층인제전로판(MPCB)등기술적발전,상규BIT설계면림도전.위해결상술문제,본문제출료일충기우변계소묘기술적판급BIT적소묘기건치입법급기측시책략.해방법조작간단,경제실용,일단엄범사용,무의장회유흔호적군사경제효익.
