电子设计工程
電子設計工程
전자설계공정
ELECTRONIC DESIGN ENGINEERING
2010年
12期
38-40,44
,共4页
ADC%DAC%精度可调%高精度ADC%校正
ADC%DAC%精度可調%高精度ADC%校正
ADC%DAC%정도가조%고정도ADC%교정
在教据采集系统中,由于成本限制和系统其他模块功能要求,系统中MCU的ADC精度有时无法满足系统测量精度要求.基于上述原因,提出一种利用MCU自带的10住ADC争DAC.结合运放、电容、电阻等元件搭建的外围硬件电路,实现将MCU自带的ADC转换为精度可调的ADC.软件设计是通过校正方法减小由硬件导致的ADC测量误差.实验结果表明,该系统可实现10～20位精度可调的ADC,测量精度最高可提高1024倍,能够满足大多数情况下的测量精度要求.
在教據採集繫統中,由于成本限製和繫統其他模塊功能要求,繫統中MCU的ADC精度有時無法滿足繫統測量精度要求.基于上述原因,提齣一種利用MCU自帶的10住ADC爭DAC.結閤運放、電容、電阻等元件搭建的外圍硬件電路,實現將MCU自帶的ADC轉換為精度可調的ADC.軟件設計是通過校正方法減小由硬件導緻的ADC測量誤差.實驗結果錶明,該繫統可實現10～20位精度可調的ADC,測量精度最高可提高1024倍,能夠滿足大多數情況下的測量精度要求.
재교거채집계통중,유우성본한제화계통기타모괴공능요구,계통중MCU적ADC정도유시무법만족계통측량정도요구.기우상술원인,제출일충이용MCU자대적10주ADC쟁DAC.결합운방、전용、전조등원건탑건적외위경건전로,실현장MCU자대적ADC전환위정도가조적ADC.연건설계시통과교정방법감소유경건도치적ADC측량오차.실험결과표명,해계통가실현10～20위정도가조적ADC,측량정도최고가제고1024배,능구만족대다수정황하적측량정도요구.
