基于SRAM的FPGA连线资源的一种可测性设计
기우SRAM적FPGA련선자원적일충가측성설계
A design-for-test for SRAM-based FPGA interconnect testing
  • 万方数据
    电路与系统学报 전로여계통학보
    JOURNAL OF CIRCUITS AND SYSTEMS
    2008年 1期 1-6 ,共6页

    张军营%黄均鼐%来金梅%童家榕

    장군영%황균내%래금매%동가용

    FPGA%可测性设计%移位寄存器链%故障诊断 FPGA%可測性設計%移位寄存器鏈%故障診斷
    FPGA%가측성설계%이위기존기련%고장진단
    FPGA(Field Programmable Gate Array)中连线资源所占面积最大,结构复杂,出现故障概率大,如何减少它的测试时间以降低测试成本,是很多研究者共同的目标.本文提出在FPGA芯片内插入多条移位寄存器链,只对开关盒连线资源进行编程下载,使得开关盒连线资源的测试时间比传统方法减少99%以上,大大减少了测试时间,降低了测试的成本.
    FPGA(Field Programmable Gate Array)중련선자원소점면적최대,결구복잡,출현고장개솔대,여하감소타적측시시간이강저측시성본,시흔다연구자공동적목표.본문제출재FPGA심편내삽입다조이위기존기련,지대개관합련선자원진행편정하재,사득개관합련선자원적측시시간비전통방법감소99%이상,대대감소료측시시간,강저료측시적성본.
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