应用光学
應用光學
응용광학
JOURNAL OF APPLIED OPTICS
2006年
1期
79-84
,共6页
偏振依赖损耗%自动测试系统%偏振态%偏振控制器
偏振依賴損耗%自動測試繫統%偏振態%偏振控製器
편진의뢰손모%자동측시계통%편진태%편진공제기
光学器件的偏振依赖损耗(PDL)是发展光纤通信必须克服的关键技术之一.该文介绍了一种新型的高精度偏振依赖损耗自动测试系统,系统中采用耦合器和监测功率计,实现了单次接入即可完成偏振依赖损耗的测量,消除了系统光功率稳定性对测试结果的影响.在同一系统中,可实现多种方法测试偏振依赖损耗,采用偏振控制器的延迟补偿技术实现了全波段内的偏振依赖损耗高精度测试.系统工作波长范围为1 200~1 600 nm,偏振依赖损耗测量范围0~5 dB,测量不确定度高达0.005 dB+PDL×4%,可满足各种光学器件偏振依赖损耗测试需要.
光學器件的偏振依賴損耗(PDL)是髮展光纖通信必鬚剋服的關鍵技術之一.該文介紹瞭一種新型的高精度偏振依賴損耗自動測試繫統,繫統中採用耦閤器和鑑測功率計,實現瞭單次接入即可完成偏振依賴損耗的測量,消除瞭繫統光功率穩定性對測試結果的影響.在同一繫統中,可實現多種方法測試偏振依賴損耗,採用偏振控製器的延遲補償技術實現瞭全波段內的偏振依賴損耗高精度測試.繫統工作波長範圍為1 200~1 600 nm,偏振依賴損耗測量範圍0~5 dB,測量不確定度高達0.005 dB+PDL×4%,可滿足各種光學器件偏振依賴損耗測試需要.
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