微电子学
微電子學
미전자학
MICROELECTRONICS
2012年
5期
745-748
,共4页
微控制器%电容测量%555芯片电路
微控製器%電容測量%555芯片電路
미공제기%전용측량%555심편전로
传统的电容测量方法在硬件和软件方面均存在诸多弊端.提出了一种新的电容检测方法.该方法利用555芯片电路,将电容值转变成555输出频率,进而通过单片机对555输出的频率进行测量.仿真结果表明,该方法具有较高的测量精度,可将测量误差缩小到4％左右.
傳統的電容測量方法在硬件和軟件方麵均存在諸多弊耑.提齣瞭一種新的電容檢測方法.該方法利用555芯片電路,將電容值轉變成555輸齣頻率,進而通過單片機對555輸齣的頻率進行測量.倣真結果錶明,該方法具有較高的測量精度,可將測量誤差縮小到4％左右.
전통적전용측량방법재경건화연건방면균존재제다폐단.제출료일충신적전용검측방법.해방법이용555심편전로,장전용치전변성555수출빈솔,진이통과단편궤대555수출적빈솔진행측량.방진결과표명,해방법구유교고적측량정도,가장측량오차축소도4％좌우.
