光子学报
光子學報
광자학보
ACTA PHOTONICA SINICA
2007年
11期
2111-2114
,共4页
项建胜%何俊华%陈敏%陈良益
項建勝%何俊華%陳敏%陳良益
항건성%하준화%진민%진량익
Mie散射%CMOS%图像处理%像素
Mie散射%CMOS%圖像處理%像素
Mie산사%CMOS%도상처리%상소
实验中利用CMOS图像传感器代替传统的光电探测器接受前向散射光,由几何光学和图像处理分析得出不同散射角的散射光与采集图像中的光环相对应.通过计算各个光环的所有像素值的总和就可以得到前向散射光光强的相对值,进而可以得出前向散射光光强变化规律.根据米氏(Mie)光散射理论可以计算出气泡各个方向的散射光光强,通过比较实验结果和Mie理论计算结果可以看出,采用CMOS图像传感器探测和图像处理技术可以准确地得出散射光强度的变化规律.
實驗中利用CMOS圖像傳感器代替傳統的光電探測器接受前嚮散射光,由幾何光學和圖像處理分析得齣不同散射角的散射光與採集圖像中的光環相對應.通過計算各箇光環的所有像素值的總和就可以得到前嚮散射光光彊的相對值,進而可以得齣前嚮散射光光彊變化規律.根據米氏(Mie)光散射理論可以計算齣氣泡各箇方嚮的散射光光彊,通過比較實驗結果和Mie理論計算結果可以看齣,採用CMOS圖像傳感器探測和圖像處理技術可以準確地得齣散射光彊度的變化規律.
실험중이용CMOS도상전감기대체전통적광전탐측기접수전향산사광,유궤하광학화도상처리분석득출불동산사각적산사광여채집도상중적광배상대응.통과계산각개광배적소유상소치적총화취가이득도전향산사광광강적상대치,진이가이득출전향산사광광강변화규률.근거미씨(Mie)광산사이론가이계산출기포각개방향적산사광광강,통과비교실험결과화Mie이론계산결과가이간출,채용CMOS도상전감기탐측화도상처리기술가이준학지득출산사광강도적변화규률.
