分析仪器
分析儀器
분석의기
ANALYTICAL INSTRUMENTATION
2008年
5期
8-11
,共4页
伊晓东%郭建平%孙海珍%时海燕%王水菊%万惠霖
伊曉東%郭建平%孫海珍%時海燕%王水菊%萬惠霖
이효동%곽건평%손해진%시해연%왕수국%만혜림
X射线光电子能谱仪%样品前处理装置%准原位XPS方法%NiO
X射線光電子能譜儀%樣品前處理裝置%準原位XPS方法%NiO
X사선광전자능보의%양품전처리장치%준원위XPS방법%NiO
针对商品X射线光电子能谱仪(XPS)不能在通常的化学反应条件下进行原位分析的缺点,设计了与能谱仪配套连接的样品前处理装置.该装置可以将经预处理(如高温氧化、还原和预吸附等)或反应后的样品厌氧转入能谱仪,使X射线光电子能谱仪对表面的探测结果能真实地代表样品在反应或预处理后的组成与结构特征.对还原态NiO的XPS表征结果表明,采用样品前处理装置进行处理后,还原态NiO从反应器转至能谱仪过程中没有发生再氧化现象.
針對商品X射線光電子能譜儀(XPS)不能在通常的化學反應條件下進行原位分析的缺點,設計瞭與能譜儀配套連接的樣品前處理裝置.該裝置可以將經預處理(如高溫氧化、還原和預吸附等)或反應後的樣品厭氧轉入能譜儀,使X射線光電子能譜儀對錶麵的探測結果能真實地代錶樣品在反應或預處理後的組成與結構特徵.對還原態NiO的XPS錶徵結果錶明,採用樣品前處理裝置進行處理後,還原態NiO從反應器轉至能譜儀過程中沒有髮生再氧化現象.
침대상품X사선광전자능보의(XPS)불능재통상적화학반응조건하진행원위분석적결점,설계료여능보의배투련접적양품전처리장치.해장치가이장경예처리(여고온양화、환원화예흡부등)혹반응후적양품염양전입능보의,사X사선광전자능보의대표면적탐측결과능진실지대표양품재반응혹예처리후적조성여결구특정.대환원태NiO적XPS표정결과표명,채용양품전처리장치진행처리후,환원태NiO종반응기전지능보의과정중몰유발생재양화현상.
