核电子学与探测技术
覈電子學與探測技術
핵전자학여탐측기술
NUCLEAR ELECTRONICS & DETECTION TECHNOLOGY
2010年
9期
1201-1206
,共6页
翟爱斌%崔志同%吴宏志%陈向跃%聂鑫%孙蓓云
翟愛斌%崔誌同%吳宏誌%陳嚮躍%聶鑫%孫蓓雲
적애빈%최지동%오굉지%진향약%섭흠%손배운
电流注入%单片机系统%EMP%损伤效应
電流註入%單片機繫統%EMP%損傷效應
전류주입%단편궤계통%EMP%손상효응
搭建了一套小型单片机数据传输系统,研究了电流注入环境下系统的电磁脉冲(EMP)敏感单元、损伤阈值,结合具体的电路结构,对系统失效原因进行了分析.实验结果表明,MAX232芯片是系统的EMP敏感单元,不同批次的器件其EMP损伤阈值不同.研究结果可为系统级EMP损伤效应研究提供实验方法及数据参考.
搭建瞭一套小型單片機數據傳輸繫統,研究瞭電流註入環境下繫統的電磁脈遲(EMP)敏感單元、損傷閾值,結閤具體的電路結構,對繫統失效原因進行瞭分析.實驗結果錶明,MAX232芯片是繫統的EMP敏感單元,不同批次的器件其EMP損傷閾值不同.研究結果可為繫統級EMP損傷效應研究提供實驗方法及數據參攷.
탑건료일투소형단편궤수거전수계통,연구료전류주입배경하계통적전자맥충(EMP)민감단원、손상역치,결합구체적전로결구,대계통실효원인진행료분석.실험결과표명,MAX232심편시계통적EMP민감단원,불동비차적기건기EMP손상역치불동.연구결과가위계통급EMP손상효응연구제공실험방법급수거삼고.
