半导体学报
半導體學報
반도체학보
CHINESE JOURNAL OF SEMICONDUCTORS
2001年
8期
1075-1080
,共6页
徐栋麟%郭新伟%徐志伟%任俊彦
徐棟麟%郭新偉%徐誌偉%任俊彥
서동린%곽신위%서지위%임준언
同步开关噪声%输出驱动器电流变化率%CMOS
同步開關譟聲%輸齣驅動器電流變化率%CMOS
동보개관조성%수출구동기전류변화솔%CMOS
提出了一种新的用于测试CMOS输出驱动器电流变化率的电路结构．它把片上电感引入到测试系统中作为对实际封装寄生电感的等效，从而排除了测试时复杂的芯片-封装界面的影响．这种电路结构不仅可以用于实际测算输出驱动器的性能指标，还可以用于研究VLSI电路中的同步开关噪声问题．该设计方法在新加坡特许半导体公司的0.6μm CMOS工艺线上进行了流片验证．测试结果表明，这一测试结构能有效地表征CMOS输出驱动器的电流变化率的性能指标和VLSI电路中的同步开关噪声特性．
提齣瞭一種新的用于測試CMOS輸齣驅動器電流變化率的電路結構．它把片上電感引入到測試繫統中作為對實際封裝寄生電感的等效，從而排除瞭測試時複雜的芯片-封裝界麵的影響．這種電路結構不僅可以用于實際測算輸齣驅動器的性能指標，還可以用于研究VLSI電路中的同步開關譟聲問題．該設計方法在新加坡特許半導體公司的0.6μm CMOS工藝線上進行瞭流片驗證．測試結果錶明，這一測試結構能有效地錶徵CMOS輸齣驅動器的電流變化率的性能指標和VLSI電路中的同步開關譟聲特性．
제출료일충신적용우측시CMOS수출구동기전류변화솔적전로결구．타파편상전감인입도측시계통중작위대실제봉장기생전감적등효，종이배제료측시시복잡적심편-봉장계면적영향．저충전로결구불부가이용우실제측산수출구동기적성능지표，환가이용우연구VLSI전로중적동보개관조성문제．해설계방법재신가파특허반도체공사적0.6μm CMOS공예선상진행료류편험증．측시결과표명，저일측시결구능유효지표정CMOS수출구동기적전류변화솔적성능지표화VLSI전로중적동보개관조성특성．
