常州工学院学报
常州工學院學報
상주공학원학보
JOURNAL OF CHANGZHOU INSTITUTE OF TECHNOLOGY
2013年
1期
33-36
,共4页
模拟/数字混合电路%故障诊断%小波变换%电流测试
模擬/數字混閤電路%故障診斷%小波變換%電流測試
모의/수자혼합전로%고장진단%소파변환%전류측시
analog/digital hybrid circuit%fault diagnosis%wavelet transform%current testing
模数混合信号电路已成为未来电路设计的发展趋势,对模数混合电路诊断和测试方面的需求日益急迫。文章首先针对模拟/数字混合电路的故障诊断,基于小波分析理论,提出了动态电流(IDDT)测试方法。其次应用小波变换的时频分析特性,对模拟/数字混合电路正常模式和故障模式的 IDDT 采样信号进行小波分解,得到特征小波系数,计算出正常模式和故障模式下相应特征小波系数的均方根误差。最后将待检测电路的特征小波系数均方根误差与已知正常及故障模式的特征小波系数均方根误差进行比较,根据结果的异同实现模拟/数字混合电路的故障诊断。通过仿真实验验证了该测试方法的有效性,与传统单一时、频域(FFT)诊断分析方法相比,仿真结果显示,该方法对模拟/数字混合电路的故障有较高的检测灵敏度,可以实现绝大多数故障的准确定位,为模拟/数字混合电路故障的准确诊断提供了一种有效手段。
模數混閤信號電路已成為未來電路設計的髮展趨勢,對模數混閤電路診斷和測試方麵的需求日益急迫。文章首先針對模擬/數字混閤電路的故障診斷,基于小波分析理論,提齣瞭動態電流(IDDT)測試方法。其次應用小波變換的時頻分析特性,對模擬/數字混閤電路正常模式和故障模式的 IDDT 採樣信號進行小波分解,得到特徵小波繫數,計算齣正常模式和故障模式下相應特徵小波繫數的均方根誤差。最後將待檢測電路的特徵小波繫數均方根誤差與已知正常及故障模式的特徵小波繫數均方根誤差進行比較,根據結果的異同實現模擬/數字混閤電路的故障診斷。通過倣真實驗驗證瞭該測試方法的有效性,與傳統單一時、頻域(FFT)診斷分析方法相比,倣真結果顯示,該方法對模擬/數字混閤電路的故障有較高的檢測靈敏度,可以實現絕大多數故障的準確定位,為模擬/數字混閤電路故障的準確診斷提供瞭一種有效手段。
모수혼합신호전로이성위미래전로설계적발전추세,대모수혼합전로진단화측시방면적수구일익급박。문장수선침대모의/수자혼합전로적고장진단,기우소파분석이론,제출료동태전류(IDDT)측시방법。기차응용소파변환적시빈분석특성,대모의/수자혼합전로정상모식화고장모식적 IDDT 채양신호진행소파분해,득도특정소파계수,계산출정상모식화고장모식하상응특정소파계수적균방근오차。최후장대검측전로적특정소파계수균방근오차여이지정상급고장모식적특정소파계수균방근오차진행비교,근거결과적이동실현모의/수자혼합전로적고장진단。통과방진실험험증료해측시방법적유효성,여전통단일시、빈역(FFT)진단분석방법상비,방진결과현시,해방법대모의/수자혼합전로적고장유교고적검측령민도,가이실현절대다수고장적준학정위,위모의/수자혼합전로고장적준학진단제공료일충유효수단。
As the analog/digital hybrid circuit is becoming one of the trends of the future circuit design,the demand for the troubleshooting and testing of the analog /digital hybrid circuit becomes increasingly urgent.This paper proposes a transient current(IDDT)testing method for the fault diagnosis of analog/digital hybrid circuit. Based on the time-frequency resolution property of wavelet transformation,wavelet decomposition is applied to the sampled signals of dynamic current in the normal mode and the fault mode of the analog/digital hybrid circuit so as to get the wavelet coefficient and calculate the coefficient′s root-mean-square error(RMSE)in the two modes. By comparing the RMSE of the tested IDDT with that in the known normal and fault modes,the fault of the ana-log/digital hybrid circuit can be diagnosed.The simulation result on a 2-bit flash ADC circuit demonstrates the proposed method is valid and has a higher sensitivity in fault detection than the traditional methods.The simulation result also implies the method is able to effectively localize the fault regions in analog/digital hybrid circuit.