用面阵CCD高精度测量微光光场均匀性
용면진CCD고정도측량미광광장균균성
Measuring uniformity of optical field of dim light by using area CCD high accurately
  • 万方数据
    中国测试技术 중국측시기술
    CHINA MEASUREMENT TECHNOLOGY
    2003年 2期 20-21 ,共2页

    赵熙林%刘炳琦%韩彦中

    조희림%류병기%한언중

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    利用高分辨率面阵CCD,提出一种新的测量微光光场均匀性的方法,同时对影响系统精度的因素进行了分析,并通过计算机处理软件给出矫正补偿措施,使面阵CCD高精度测量技术成功地用于实践.
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