硅表面有机单分子膜的新表征方法--界面微分电容测量法
규표면유궤단분자막적신표정방법--계면미분전용측량법
A New Technique of the Characterization of Monolayers on Silicon Surfaces Measure of the Differential Capacity of Interfaces
  • 万方数据
    高等学校化学学报 고등학교화학학보
    CHEMICAL JOURNAL OF CHINESE UNIVERSITIES
    2003年 1期 86-90 ,共5页

    孙乔玉%Catherine Henry de Villeneuve%力虎林%Philippe Allongue

    손교옥%Catherine Henry de Villeneuve%력호림%Philippe Allongue

    硅表面单分子膜%微分电容%表征方法 硅錶麵單分子膜%微分電容%錶徵方法
    규표면단분자막%미분전용%표정방법
    提出一种表征硅表面有机单分子膜的新方法界面微分电容测量法.通过对新制备的H-Si(111)表面和一系列烯烃分子修饰的硅表面/电解液界面的微分电容的研究,建立了硅表面有机膜结构和性质与界面电容之间的联系.实践证明这是一个简便、快速和有效的实验技术,为硅表面化学修饰与功能化研究提供了一个非常有力的工具.
    제출일충표정규표면유궤단분자막적신방법계면미분전용측량법.통과대신제비적H-Si(111)표면화일계렬희경분자수식적규표면/전해액계면적미분전용적연구,건립료규표면유궤막결구화성질여계면전용지간적련계.실천증명저시일개간편、쾌속화유효적실험기술,위규표면화학수식여공능화연구제공료일개비상유력적공구.
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