电子产品可靠性与环境试验
電子產品可靠性與環境試驗
전자산품가고성여배경시험
ELECTRONIC PRODUCT RELIABILITY AND ENVIRONMENTAL TESTING
2012年
z1期
163-166
,共4页
电离总剂量%金属-氧化物-半导体器件%辐照流程%偏置条件
電離總劑量%金屬-氧化物-半導體器件%輻照流程%偏置條件
전리총제량%금속-양화물-반도체기건%복조류정%편치조건
空间辐射环境是影响航天电子设备长期稳定运行的重要因素,是当前航天电子技术研究的重点.针对目前国内主要的电离总剂量辐照试验标准,阐述了MOS的辐照试验流程,并对其中包含的机理进行了详细的分析;同时,对试验方法中有关偏置条件、辐照后测试时间的规定等内容进行了详细的分析.
空間輻射環境是影響航天電子設備長期穩定運行的重要因素,是噹前航天電子技術研究的重點.針對目前國內主要的電離總劑量輻照試驗標準,闡述瞭MOS的輻照試驗流程,併對其中包含的機理進行瞭詳細的分析;同時,對試驗方法中有關偏置條件、輻照後測試時間的規定等內容進行瞭詳細的分析.
공간복사배경시영향항천전자설비장기은정운행적중요인소,시당전항천전자기술연구적중점.침대목전국내주요적전리총제량복조시험표준,천술료MOS적복조시험류정,병대기중포함적궤리진행료상세적분석;동시,대시험방법중유관편치조건、복조후측시시간적규정등내용진행료상세적분석.