CAJ | 학술논문

研究了高LET的碳离子对V79细胞和B16细胞的低剂量效应.细胞经0.02Gy和0.05Gy的诱导剂量处理后,继续培养4 h,再经1Gy攻击剂量处理,从存活率和微核率两方面研究了细胞的适应性反应.结果表明:经0.02Gy诱导剂量处理以后,两种细胞在存活率和微核率方面分别表现为明显的提高和下降,相反,经0.05Gy诱导剂量处理以后,细胞在存活率方面没有表现出有统计学意义的差别,在微核率方面表现出协同损伤的趋势.因此, 0.02Gy的高LET射线辐照能诱导体外培养细胞的适应性反应, 0.05Gy则不能.同时,微核率与存活率呈线性负相关,低剂量如0.02Gy预辐照能使细胞微核率降低,存活率提高.
연구료고LET적탄리자대V79세포화B16세포적저제량효응.세포경0.02Gy화0.05Gy적유도제량처리후,계속배양4 h,재경1Gy공격제량처리,종존활솔화미핵솔량방면연구료세포적괄응성반응.결과표명:경0.02Gy유도제량처리이후,량충세포재존활솔화미핵솔방면분별표현위명현적제고화하강,상반,경0.05Gy유도제량처리이후,세포재존활솔방면몰유표현출유통계학의의적차별,재미핵솔방면표현출협동손상적추세.인차, 0.02Gy적고LET사선복조능유도체외배양세포적괄응성반응, 0.05Gy칙불능.동시,미핵솔여존활솔정선성부상관,저제량여0.02Gy예복조능사세포미핵솔강저,존활솔제고.