科学通报
科學通報
과학통보
CHINESE SCIENCE BULLETIN
2002年
12期
902-904
,共3页
魏劲松%阮昊%施宏仁%干福熹
魏勁鬆%阮昊%施宏仁%榦福熹
위경송%원호%시굉인%간복희
超分辨%光存储%Sb%信噪比
超分辨%光存儲%Sb%信譟比
초분변%광존저%Sb%신조비
采用Sb掩膜层代替Al反射层, 在激光波长为632.8 nm和数值孔径为0.40的光盘动态测试装置上实现了直径为380 nm的超分辨记录点的读出. 得到了Sb薄膜厚度对只读式超分辨光盘的读出信号强度的影响规律. 同时发现Sb为28～30 nm时超分辨记录点的读出信号强度最高达38～40 dB.
採用Sb掩膜層代替Al反射層, 在激光波長為632.8 nm和數值孔徑為0.40的光盤動態測試裝置上實現瞭直徑為380 nm的超分辨記錄點的讀齣. 得到瞭Sb薄膜厚度對隻讀式超分辨光盤的讀齣信號彊度的影響規律. 同時髮現Sb為28～30 nm時超分辨記錄點的讀齣信號彊度最高達38～40 dB.
채용Sb엄막층대체Al반사층, 재격광파장위632.8 nm화수치공경위0.40적광반동태측시장치상실현료직경위380 nm적초분변기록점적독출. 득도료Sb박막후도대지독식초분변광반적독출신호강도적영향규률. 동시발현Sb위28～30 nm시초분변기록점적독출신호강도최고체38～40 dB.
