半导体光电
半導體光電
반도체광전
SEMICONDUCTOR OPTOELECTRONICS
2008年
4期
606-609
,共4页
程玉华%周秀云%李平飞%廖百胜
程玉華%週秀雲%李平飛%廖百勝
정옥화%주수운%리평비%료백성
磁-光显微成像%分辨率%磁-光薄膜
磁-光顯微成像%分辨率%磁-光薄膜
자-광현미성상%분변솔%자-광박막
磁-光显微成像检测由于受到光强的变化、磁-光薄膜磁畴的变化等外界因素影响,检测系统获取的磁-光图像的分辨率不高.文章从涡流激励装置的设计、磁-光薄膜的选择及制备和图像处理的设计出发,分析了影响磁-光图像分辨率的因素,提出了相应的改善办法,并进行了大量的试验验证,实验结果验证了该设计方法的可靠性.
磁-光顯微成像檢測由于受到光彊的變化、磁-光薄膜磁疇的變化等外界因素影響,檢測繫統穫取的磁-光圖像的分辨率不高.文章從渦流激勵裝置的設計、磁-光薄膜的選擇及製備和圖像處理的設計齣髮,分析瞭影響磁-光圖像分辨率的因素,提齣瞭相應的改善辦法,併進行瞭大量的試驗驗證,實驗結果驗證瞭該設計方法的可靠性.
자-광현미성상검측유우수도광강적변화、자-광박막자주적변화등외계인소영향,검측계통획취적자-광도상적분변솔불고.문장종와류격려장치적설계、자-광박막적선택급제비화도상처리적설계출발,분석료영향자-광도상분변솔적인소,제출료상응적개선판법,병진행료대량적시험험증,실험결과험증료해설계방법적가고성.
