电子测量与仪器学报
電子測量與儀器學報
전자측량여의기학보
JOURNAL OF ELECTRONIC MEASUREMENT AND INSTRUMENT
2012年
4期
305-311
,共7页
佘开%何怡刚%朱彦卿%方葛丰
佘開%何怡剛%硃彥卿%方葛豐
사개%하이강%주언경%방갈봉
射频识别%多天线%Nakagami-m信道%信噪比%反向识别距离
射頻識彆%多天線%Nakagami-m信道%信譟比%反嚮識彆距離
사빈식별%다천선%Nakagami-m신도%신조비%반향식별거리
超高频(UHF)射频识别系统(RFID)读取可靠性受多径信道制约,而多天线分集技术(MIMO)被认为能有效提高其链路可靠性.不同于一般的无线通信系统,UHF RFID反向链路是两个多径信道的级联,本文基于最大比合并(MRC)准则,分阅读器单站和双站天线情形,导出了Nakagami-m多径信道下单天线(SISO)与多天线(MIMO)RFID系统反向识别距离(RIR)均值的解析表达式,并通过数值仿真和实际测试研究了相关因素对RIR均值的影响.实验结果表明:MIMO技术能有效提高多径信道下UHF RFID系统的反向识别距离,并且阵列天线数越多、信道相关系数越小、信道衰落参数m越大,RIR均值将越高.
超高頻(UHF)射頻識彆繫統(RFID)讀取可靠性受多徑信道製約,而多天線分集技術(MIMO)被認為能有效提高其鏈路可靠性.不同于一般的無線通信繫統,UHF RFID反嚮鏈路是兩箇多徑信道的級聯,本文基于最大比閤併(MRC)準則,分閱讀器單站和雙站天線情形,導齣瞭Nakagami-m多徑信道下單天線(SISO)與多天線(MIMO)RFID繫統反嚮識彆距離(RIR)均值的解析錶達式,併通過數值倣真和實際測試研究瞭相關因素對RIR均值的影響.實驗結果錶明:MIMO技術能有效提高多徑信道下UHF RFID繫統的反嚮識彆距離,併且陣列天線數越多、信道相關繫數越小、信道衰落參數m越大,RIR均值將越高.
초고빈(UHF)사빈식별계통(RFID)독취가고성수다경신도제약,이다천선분집기술(MIMO)피인위능유효제고기련로가고성.불동우일반적무선통신계통,UHF RFID반향련로시량개다경신도적급련,본문기우최대비합병(MRC)준칙,분열독기단참화쌍참천선정형,도출료Nakagami-m다경신도하단천선(SISO)여다천선(MIMO)RFID계통반향식별거리(RIR)균치적해석표체식,병통과수치방진화실제측시연구료상관인소대RIR균치적영향.실험결과표명:MIMO기술능유효제고다경신도하UHF RFID계통적반향식별거리,병차진렬천선수월다、신도상관계수월소、신도쇠락삼수m월대,RIR균치장월고.
