管理工程学报
管理工程學報
관리공정학보
JOURNAL OF INDUSTRIAL ENGINEERING AND ENGINEERING MANAGEMENT
2012年
4期
77-83
,共7页
专利生存期%中国%影响因素%生存分析
專利生存期%中國%影響因素%生存分析
전리생존기%중국%영향인소%생존분석
本文主要讨论我国专利申请人在美国申请专利的专利生存期问题,分析其受到哪些因素的影响.根据278份我国在美申请获得授权且已失效发明专利信息,分析发现,FAM(专利族数量)增加,专利生存期会增长,CITL(专利引用文献数量)增加,专利生存期会增长,个人持有专利生存期更长,合作持有专利生存期更长；而专利被引用数(CITD)、专利发明人数(IVNO)、专利的美国分类数(CAT)、专利国际分类号数(IPCNO)与专利生存期之间没有显著关系.
本文主要討論我國專利申請人在美國申請專利的專利生存期問題,分析其受到哪些因素的影響.根據278份我國在美申請穫得授權且已失效髮明專利信息,分析髮現,FAM(專利族數量)增加,專利生存期會增長,CITL(專利引用文獻數量)增加,專利生存期會增長,箇人持有專利生存期更長,閤作持有專利生存期更長；而專利被引用數(CITD)、專利髮明人數(IVNO)、專利的美國分類數(CAT)、專利國際分類號數(IPCNO)與專利生存期之間沒有顯著關繫.
본문주요토론아국전리신청인재미국신청전리적전리생존기문제,분석기수도나사인소적영향.근거278빈아국재미신청획득수권차이실효발명전리신식,분석발현,FAM(전리족수량)증가,전리생존기회증장,CITL(전리인용문헌수량)증가,전리생존기회증장,개인지유전리생존기경장,합작지유전리생존기경장；이전리피인용수(CITD)、전리발명인수(IVNO)、전리적미국분류수(CAT)、전리국제분류호수(IPCNO)여전리생존기지간몰유현저관계.
