光电子技术
光電子技術
광전자기술
OPTOELECTRONIC TECHNOLOGY
2009年
3期
179-181
,共3页
江晓军%冯荣达%刘正国%秦琴
江曉軍%馮榮達%劉正國%秦琴
강효군%풍영체%류정국%진금
测量%条纹分析%电荷耦合器件
測量%條紋分析%電荷耦閤器件
측량%조문분석%전하우합기건
平面光学元件的光圈数是反映光学元件面形质量的重要参数.通过分析检测原理与方法,设计了一套应用光学技术、CCD成像技术、图像处理技术与计算机软件技术的检测系统.实验表明:该检测系统具有客观性强、易操作、准确度较高等特点.
平麵光學元件的光圈數是反映光學元件麵形質量的重要參數.通過分析檢測原理與方法,設計瞭一套應用光學技術、CCD成像技術、圖像處理技術與計算機軟件技術的檢測繫統.實驗錶明:該檢測繫統具有客觀性彊、易操作、準確度較高等特點.
평면광학원건적광권수시반영광학원건면형질량적중요삼수.통과분석검측원리여방법,설계료일투응용광학기술、CCD성상기술、도상처리기술여계산궤연건기술적검측계통.실험표명:해검측계통구유객관성강、역조작、준학도교고등특점.
