低温物理学报
低溫物理學報
저온물이학보
CHINESE JOURNAL OF LOW TEMPERATURE PHYSICS
2005年
z1期
555-558
,共4页
正电子寿命谱%超导电性
正電子壽命譜%超導電性
정전자수명보%초도전성
本文报道了在室温下对La2-xBaxCuO4超导系列样品的正电子寿命谱(PAT)测量,讨论了正电子湮没机制与超导转变温度的关联,并从电子密度转移方面解释了La2-xBaxCuO4超导样品在1/8处的转变温度受抑制的原因.
本文報道瞭在室溫下對La2-xBaxCuO4超導繫列樣品的正電子壽命譜(PAT)測量,討論瞭正電子湮沒機製與超導轉變溫度的關聯,併從電子密度轉移方麵解釋瞭La2-xBaxCuO4超導樣品在1/8處的轉變溫度受抑製的原因.
본문보도료재실온하대La2-xBaxCuO4초도계렬양품적정전자수명보(PAT)측량,토론료정전자인몰궤제여초도전변온도적관련,병종전자밀도전이방면해석료La2-xBaxCuO4초도양품재1/8처적전변온도수억제적원인.
