电子器件
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전자기건
JOURNAL OF ELECTRON DEVICES
2007年
5期
1684-1688
,共5页
免疫算法%缺陷识别%红外%多学科优化
免疫算法%缺陷識彆%紅外%多學科優化
면역산법%결함식별%홍외%다학과우화
引入了多学科设计优化(MDO)框架以用于缺陷的红外识别.该计算框架具有良好的开放性和稳定性,由任何不用计算梯度的优化算法如免疫算法、粒子群算法等和通用的CAD建模软件、有限元(FEM)计算软件、数据采集与信号处理软件等组建,使得比较复杂的缺陷参数红外识别问题变得简单、迅速,过程统一.最后给出了约束优化免疫优化算法(COIA)在沉孔型缺陷参数红外识别中一个简单的应用例子.
引入瞭多學科設計優化(MDO)框架以用于缺陷的紅外識彆.該計算框架具有良好的開放性和穩定性,由任何不用計算梯度的優化算法如免疫算法、粒子群算法等和通用的CAD建模軟件、有限元(FEM)計算軟件、數據採集與信號處理軟件等組建,使得比較複雜的缺陷參數紅外識彆問題變得簡單、迅速,過程統一.最後給齣瞭約束優化免疫優化算法(COIA)在沉孔型缺陷參數紅外識彆中一箇簡單的應用例子.
인입료다학과설계우화(MDO)광가이용우결함적홍외식별.해계산광가구유량호적개방성화은정성,유임하불용계산제도적우화산법여면역산법、입자군산법등화통용적CAD건모연건、유한원(FEM)계산연건、수거채집여신호처리연건등조건,사득비교복잡적결함삼수홍외식별문제변득간단、신속,과정통일.최후급출료약속우화면역우화산법(COIA)재침공형결함삼수홍외식별중일개간단적응용례자.
