冶金分析
冶金分析
야금분석
METALLURGICAL ANALYSIS
2011年
1期
19-22
,共4页
郭龙滨%赖万昌%张永涛%何大志
郭龍濱%賴萬昌%張永濤%何大誌
곽룡빈%뢰만창%장영도%하대지
能量色散%X射线荧光分析%基体效应%快速分析%铟%矿渣
能量色散%X射線熒光分析%基體效應%快速分析%銦%礦渣
능량색산%X사선형광분석%기체효응%쾌속분석%인%광사
采用电致冷Si-PIN型半导体探测器和<'241>Am源作为激发源,以便携式能量色散X射线荧光快速分析仪为手段进行矿渣样品中铟的测定.讨论了样品中主要基体元素Fe、Cu、Pb、Zn等的影响,建立特散比法和一元回归相结合的数学模型对基体效应进行校正.仪器对自制样品重复测量20次,从测量结果分析来看,标准偏差为24.5μg/g,相对标准偏差为6.4%,仪器处于正常工作状态.通过部分自制样品的测量结果与化学分析的结果对比分析,相对误差的最小值为0.35%,仪器测量结果为0.158%;相对误差最大值为26.06%,仪器测量结果为0.023%.
採用電緻冷Si-PIN型半導體探測器和<'241>Am源作為激髮源,以便攜式能量色散X射線熒光快速分析儀為手段進行礦渣樣品中銦的測定.討論瞭樣品中主要基體元素Fe、Cu、Pb、Zn等的影響,建立特散比法和一元迴歸相結閤的數學模型對基體效應進行校正.儀器對自製樣品重複測量20次,從測量結果分析來看,標準偏差為24.5μg/g,相對標準偏差為6.4%,儀器處于正常工作狀態.通過部分自製樣品的測量結果與化學分析的結果對比分析,相對誤差的最小值為0.35%,儀器測量結果為0.158%;相對誤差最大值為26.06%,儀器測量結果為0.023%.
채용전치랭Si-PIN형반도체탐측기화<'241>Am원작위격발원,이편휴식능량색산X사선형광쾌속분석의위수단진행광사양품중인적측정.토론료양품중주요기체원소Fe、Cu、Pb、Zn등적영향,건립특산비법화일원회귀상결합적수학모형대기체효응진행교정.의기대자제양품중복측량20차,종측량결과분석래간,표준편차위24.5μg/g,상대표준편차위6.4%,의기처우정상공작상태.통과부분자제양품적측량결과여화학분석적결과대비분석,상대오차적최소치위0.35%,의기측량결과위0.158%;상대오차최대치위26.06%,의기측량결과위0.023%.
