电子质量
電子質量
전자질량
ELECTRONICS QUALITY
2007年
10期
45-46,67
,共3页
电子元器件贮存%环境因子%贝叶斯方法%评估与预测%寿命分布
電子元器件貯存%環境因子%貝葉斯方法%評估與預測%壽命分佈
전자원기건저존%배경인자%패협사방법%평고여예측%수명분포
基于电子元件寿命试验的二项型数据信息,提出了电子元件贮存可靠性评估与预测的贝叶斯方法.利用环境因子将电子元件产品在不同贮存条件下的试验数据进行折合,依据贝叶斯理论对小样本下可能出现的数据"数据倒挂"进行预处理,并评估出其在各已知贮存时间点上的可靠度,再运用配曲线法得到产品的贮存寿命分布,进而对其贮存可靠度进行合理预测.最后,通过一个实例说明了方法的可行性.
基于電子元件壽命試驗的二項型數據信息,提齣瞭電子元件貯存可靠性評估與預測的貝葉斯方法.利用環境因子將電子元件產品在不同貯存條件下的試驗數據進行摺閤,依據貝葉斯理論對小樣本下可能齣現的數據"數據倒掛"進行預處理,併評估齣其在各已知貯存時間點上的可靠度,再運用配麯線法得到產品的貯存壽命分佈,進而對其貯存可靠度進行閤理預測.最後,通過一箇實例說明瞭方法的可行性.
기우전자원건수명시험적이항형수거신식,제출료전자원건저존가고성평고여예측적패협사방법.이용배경인자장전자원건산품재불동저존조건하적시험수거진행절합,의거패협사이론대소양본하가능출현적수거"수거도괘"진행예처리,병평고출기재각이지저존시간점상적가고도,재운용배곡선법득도산품적저존수명분포,진이대기저존가고도진행합리예측.최후,통과일개실례설명료방법적가행성.
