山西科技
山西科技
산서과기
SHANXI KEJI
2011年
1期
89-91,93
,共4页
颗粒粒径%光散射法%测量
顆粒粒徑%光散射法%測量
과립립경%광산사법%측량
系统论述了测量颗粒粒径常用的几种光散射法,分别是衍射法、全散射法、角散射法和光子相关光谱法,对于颗粒粒径测量技术的发展,具有一定借鉴价值.
繫統論述瞭測量顆粒粒徑常用的幾種光散射法,分彆是衍射法、全散射法、角散射法和光子相關光譜法,對于顆粒粒徑測量技術的髮展,具有一定藉鑒價值.
계통논술료측량과립립경상용적궤충광산사법,분별시연사법、전산사법、각산사법화광자상관광보법,대우과립립경측량기술적발전,구유일정차감개치.
