光学仪器
光學儀器
광학의기
OPTICAL INSTRUMENTS
2000年
3期
21-24
,共4页
光学元件%功率谱密度函数%傅里叶分析
光學元件%功率譜密度函數%傅裏葉分析
광학원건%공솔보밀도함수%부리협분석
高能量、高分辨力光学系统给传统的光学面形评价指标提出了新的要求.各项测试技术,信息理论的更新给我们的研究提供了可能.介绍采用PSD功率谱密度函数来评价光学元件面形中频误差.
高能量、高分辨力光學繫統給傳統的光學麵形評價指標提齣瞭新的要求.各項測試技術,信息理論的更新給我們的研究提供瞭可能.介紹採用PSD功率譜密度函數來評價光學元件麵形中頻誤差.
고능량、고분변력광학계통급전통적광학면형평개지표제출료신적요구.각항측시기술,신식이론적경신급아문적연구제공료가능.개소채용PSD공솔보밀도함수래평개광학원건면형중빈오차.
